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某芯片制造企业晶圆缺陷检测产线改造

发布时间:2026-01-12 22:34:10


项目背景: 某国内8英寸芯片制造企业面临晶圆良率提升压力,原有进口检测设备维护费用高昂且备件供应周期长,急需国产替代方案。



解决方案: 星空综合中国官方网站为客户提供了半导体缺陷检测S4系统,采用纳米级光学检测技术,支持8英寸晶圆全自动检测,可识别颗粒、划伤、图形缺陷等多种类型缺陷,检测速度达到150片/小时。



项目成果: 设备部署后晶圆检测覆盖率从75%提升至98%,成品良率提高3.2个百分点,年增产值超过2000万元。技术差距持续缩小,设备已通过客户6个月验证期,成为国内半导体检测设备国产化的标杆案例。