塞莫费雪科学申请校准质谱仪专利确定检测器校准因子

　　国家知识产权局信息显示，塞莫费雪科学（不来梅）有限公司申请一项名为“校准质谱仪”的专利，公开号CN118435315A8，申请日期为2022年12月。

　　专利摘要显示，公开了一种校准质谱仪的方法，该质谱仪包括具有第一离子强度测量范围(IDR1)的第一类型的至少一个离子检测器和具有第二离子强度测量范围(IDR2)的第二类型的至少一个离子检测器。该第一离子强度测量范围和该第二离子强度测量范围共享重叠范围(IDR0)。该方法可包括：-检测清洗周期(WP)；-在清洗周期期间和/或之后，利用第一类型的至少一个离子检测器和第二类型的至少一个离子检测器两者测量离子强度，以分别生成第一测量离子强度和第二测量离子强度；以及-使用第一测量离子强度和第二测量离子强度确定检测器校准因子。

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